電子測試理論與應(yīng)用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的一本工程：電子與電氣-工程技術(shù)學術(shù)刊物，主要報道工程：電子與電氣-工程技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1990年，出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級：Q4，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)2，SJR指數(shù)0.271。本刊非開放獲取期刊。
《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評審，以確保原創(chuàng)性、及時性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發(fā)表。 《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評論文章，以促進對最新技術(shù)的更好理解。
《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測試；
模擬和數(shù)字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設(shè)備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設(shè)計；
可測試性綜合；
內(nèi)置自測試；
測試規(guī)范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設(shè)計調(diào)試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；
自動測試設(shè)備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統(tǒng)；
測試編程；
測試數(shù)據(jù)分析；
測試經(jīng)濟性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統(tǒng)測試；
制造良率和良率改進設(shè)計；
故障模式分析和工藝改進
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
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| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
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| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果。在中科院期刊分區(qū)表中，主要參考3年平均IF作為學術(shù)影響力，最終每個分區(qū)的期刊累積學術(shù)影響力是相同的，各區(qū)的期刊數(shù)量由高到底呈金字塔式分布。
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2%
|
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37%
|
湯森路透每年出版一本《期刊引用報告》（Journal Citation Reports，簡稱JCR）。JCR對86000多種SCI期刊的影響因子（Impact Factor）等指數(shù)加以統(tǒng)計。JCR將收錄期刊分為176個不同學科類別在JCR的Journal Ranking中，主要參考當年IF，最終每個分區(qū)的期刊數(shù)量是均分的。
| 學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 495 / 797 |
37%
|
CiteScore：該指標由Elsevier于2016年提出，指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù)，除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。
| 文章名稱 | 引用次數(shù) |
| 期刊名稱 | 引用次數(shù) |
| 期刊名稱 | 引用次數(shù) |
中科院分區(qū) 2區(qū) JCR分區(qū) Q1
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