摘要：[目的/意義]我國專利數量巨大,但質量高低不齊。高質量專利對技術追蹤、技術引進和資產管理極其重要,低質劣質專利則會阻礙科技創新的評估。聚焦高質量專利并進行挖掘可以獲取更加深層與核心的情報,但高質量專利篩選卻如“大海撈針”,目前尚無可行的識別篩選方法。探索適合中國專利的高質量專利評價模型及篩選方法迫在眉睫。[方法/過程]通過文獻調研法對當前專利質量及評價進行綜合歸納的基礎上,延伸并界定高質量專利的內涵,對專利質量評價維度及指標進行創新拓展,構建分級、分層的多維視角專利質量評價指標體系,并基于創新指標體系建立高質量專利識別方法流程模型,最后以上海市高質量專利分布現狀為例驗證了方法模型的實用性及可行性,并為創新主體提出相應建議。[結果/結論]研究結果表明本文提出的高質量專利指標模型及識別方法具有較強的科學性和可操作性,利用該指標模型和識別方法可對某地區或某領域的大批量專利進行篩選識別,為實現專利技術情報的科學高效利用提供有價值的參考。