摘要：利用背角準(zhǔn)彈散射的方法開展了近庫(kù)侖勢(shì)壘(近壘)能區(qū)重離子核反應(yīng)機(jī)制的研究。高精度測(cè)量了深壘下能區(qū)16O+152,154Sm、184W、196Pt和208Pb等體系的背角準(zhǔn)彈散射激發(fā)函數(shù),用耦合道計(jì)算抽取了核勢(shì)的表面彌散參數(shù),結(jié)果表明考慮耦合道效應(yīng)得到的表面彌散參數(shù)值正常。基于背角準(zhǔn)彈散射勢(shì)壘分布對(duì)核結(jié)構(gòu)的敏感性,嘗試用深壘下能區(qū)16O+152Sm、170Er和174Yb等體系的背角準(zhǔn)彈散射來(lái)抽取形變靶核的十六極形變參數(shù),所抽取值與已有結(jié)果趨勢(shì)一致,說(shuō)明了該方法的可行性。此外,研究了弱束縛核體系的破裂效應(yīng),其表現(xiàn)為背角準(zhǔn)彈勢(shì)壘分布較全熔合勢(shì)壘分布向低能移動(dòng),所得結(jié)果進(jìn)一步說(shuō)明勢(shì)壘分布同時(shí)含有核結(jié)構(gòu)和核反應(yīng)機(jī)制的信息。