首頁 > 期刊 > 自然科學(xué)與工程技術(shù) > 信息科技 > 無線電電子學(xué) > 中國集成電路 > 基于一款音頻ASIC芯片的物理驗(yàn)證方案 【正文】
摘要:隨著集成電路設(shè)計(jì)進(jìn)入到納米工藝,物理驗(yàn)證環(huán)節(jié)對(duì)芯片設(shè)計(jì)的影響變得越來越重要。設(shè)計(jì)規(guī)則檢查和電路規(guī)則檢查是物理驗(yàn)證的兩項(xiàng)主要工作,目前有很多EDA工具可以進(jìn)行芯片的物理驗(yàn)證工作。本文介紹了一款音頻ASIC芯片的物理驗(yàn)證方案,主要基于Argus物理驗(yàn)證工具平臺(tái)。
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