《Microelectronics Journal》出版語(yǔ)言：English，具體論文語(yǔ)言需根據(jù)相關(guān)征稿要求而定，可聯(lián)系雜志社或在線客服。

該雜志是一本由Elsevier出版的國(guó)際知名學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于1967年，出版語(yǔ)言：English，專注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，重點(diǎn)介紹工程技術(shù)-工程：電子與電氣的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對(duì)該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來(lái)，是一個(gè)傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國(guó)際論壇。《微電子學(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時(shí)效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。

《微電子學(xué)雜志》誠(chéng)邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評(píng)論/調(diào)查論文也將予以考慮。《微電子學(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計(jì)方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級(jí)綜合；測(cè)試、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測(cè)試；面積、功率和熱分析與設(shè)計(jì)；混合域仿真與設(shè)計(jì)；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計(jì)算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計(jì)和測(cè)試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計(jì)和測(cè)試；3-D 集成設(shè)計(jì)和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應(yīng)用方面，例如信號(hào)和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問(wèn)題以及經(jīng)濟(jì)模型。

此外，關(guān)于《Microelectronics Journal》的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)如下：

（1）JCR分區(qū)信息：按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q3，按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q3

（2）Cite Score（2024年最新版）

（3）在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科中工程技術(shù)為：3區(qū)，小類學(xué)科中ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程技術(shù)-工程：電子與電氣：3區(qū)

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