《Ieee Design & Test》出版語言：English，具體論文語言需根據(jù)相關(guān)征稿要求而定，可聯(lián)系雜志社或在線客服。
該雜志是一本由IEEE Computer Society出版的國際知名學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于2013年，出版語言：English，專注于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域，重點(diǎn)介紹COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。
《IEEE 設(shè)計(jì)與測試》提供原創(chuàng)作品，介紹用于設(shè)計(jì)和測試微電子系統(tǒng)（從設(shè)備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側(cè)重于當(dāng)前和近期的實(shí)踐，包括教程、操作方法文章和真實(shí)案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術(shù)進(jìn)步以及技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者的觀點(diǎn)。主題包括半導(dǎo)體 IC 設(shè)計(jì)、半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)模塊、設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測試技術(shù)、制造和產(chǎn)量設(shè)計(jì)、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設(shè)計(jì)、電子設(shè)計(jì)自動化工具、實(shí)用技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)。
此外，關(guān)于《Ieee Design & Test》的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)如下：
（1）JCR分區(qū)信息：按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q3，按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)：Q3
JCR分區(qū)信息
Ieee Design & Test（2023-2024年最新版數(shù)據(jù)）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 59 |
29.7%
|
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2%
|
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 40 / 59 |
33.05%
|
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 217 / 354 |
38.84%
|
湯森路透每年出版一本《期刊引用報(bào)告》（Journal Citation Reports，簡稱JCR）。JCR對86000多種SCI期刊的影響因子（Impact Factor）等指數(shù)加以統(tǒng)計(jì)。JCR將收錄期刊分為176個(gè)不同學(xué)科類別在JCR的Journal Ranking中，主要參考當(dāng)年IF，最終每個(gè)分區(qū)的期刊數(shù)量是均分的。
（2）Cite Score（2024年最新版）
Cite Score（2024年最新版）
- CiteScore：3.8
- SJR：0.489
- SNIP：0.757
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 354 / 797 |
55%
|
| 大類：Engineering 小類：Hardware and Architecture | Q3 | 94 / 177 |
47%
|
| 大類：Engineering 小類：Software | Q3 | 230 / 407 |
43%
|
CiteScore：該指標(biāo)由Elsevier于2016年提出，指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計(jì)算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計(jì)算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù)，除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。
（3）在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科中工程技術(shù)為：4區(qū)，小類學(xué)科中COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURECOMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC：4區(qū)
中科院分區(qū)信息
IEEE設(shè)計(jì)與測試2023年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE設(shè)計(jì)與測試2022年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE設(shè)計(jì)與測試2021年12月舊的升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE設(shè)計(jì)與測試2021年12月基礎(chǔ)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 | 否 |
IEEE設(shè)計(jì)與測試2021年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
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4區(qū)
4區(qū)
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否 | 否 |
IEEE設(shè)計(jì)與測試2020年12月舊的升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
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3區(qū)
3區(qū)
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否 | 否 |
中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果。在中科院期刊分區(qū)表中，主要參考3年平均IF作為學(xué)術(shù)影響力，最終每個(gè)分區(qū)的期刊累積學(xué)術(shù)影響力是相同的，各區(qū)的期刊數(shù)量由高到底呈金字塔式分布。
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